О. Н. Урюпин, А. А. Шабалдин, “Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок”, Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 5,страницы 702

XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.

Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок

О. Н. Урюпин, А. А. Шабалдин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Создана экспериментальная установка для измерения термоэлектрических свойств полупроводниковых нанопроволок диаметром до 5 нм в диэлектрических матрицах. Установка позволяет измерять электросопротивление и термоэдс наноструктурированных образцов в диапазоне температур 77–400 K.

Поступила в редакцию: 20.12.2018
Исправленный вариант: 24.12.2018
Принята в печать: 28.12.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.05.47567.25