RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 13, страницы 1584–1588 (Mi phts5633)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Оптические исследования теплопереноса в тонких пленках PbTe : Bi(Sb)

Е. В. Ивакинa, И. Г. Киселёвa, Л. И. Никируйb, Я. С. Яворскийb

a Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, г. Минск
b Прикарпатский национальный университет им. В. Стефаника, г. Ивано-Франковск

Аннотация: Исследованы электрические и тепловые свойства синтезированных методом термического испарения в вакууме пленок теллурида свинца толщиной от 0.3 до 2.4 мкм, легированных сурьмой и висмутом. Путем возбуждения поверхностных динамических решеток проведено бесконтактное измерение тангенциальной температуропроводности и показано, что разработанная технология легирования приводит к заметному уменьшению данного параметра теплопереноса по сравнению с беспримесным PbTe.

Поступила в редакцию: 05.02.2018
Принята в печать: 12.02.2018

DOI: 10.21883/FTP.2018.13.46871.8835


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:13, 1691–1695

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024