RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 10, страницы 1115–1119 (Mi phts5703)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Формирование спектров люминесценции, интенсивность излучения в УФ и видимой областях структур $n$-ZnO/$p$-GaN, $n$-ZnO/$p$-ZnO при нанесении пленок ZnO методом высокочастотного магнетронного распыления

М. М. Мездрогинаa, А. Я. Виноградовa, Ю. В. Кожановаb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Исследованы спектры излучения структур на основе пленок ZnO, нанесенных методом высокочастотного магнетронного распыления. В спектрах ФЛ ($T$ = 300 K) структур $n$-ZnO/$p$-GaN:Mg наблюдались ярко выраженные линии излучения, связанные с рекомбинацией свободных ($\lambda$ = 363 нм) и связанных экситонов $\lambda$ = (377, 390, 410) нм, в области примесной ФЛ $\lambda$ = (450–600) нм существенного излучения не наблюдалось. В спектрах ЭЛ структур $n$-ZnO/$p$-ZnO ($T$ = 300 K) имелись лишь линии излучения, характерные для $n$-ZnO ($\lambda$ = 374 нм).

Поступила в редакцию: 12.11.2017
Принята в печать: 05.02.2018

DOI: 10.21883/FTP.2018.10.46449.8798


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:10, 1233–1237

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024