RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 9, страницы 1094–1099 (Mi phts5744)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Фотодиоды для ближней инфракрасной области спектра на основе GaSb/GaAlAsSb-гетероструктур

Е. В. Куницына, И. А. Андреев, Г. Г. Коновалов, Э. В. Иванов, А. А. Пивоварова, Н. Д. Ильинская, Ю. П. Яковлев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Созданы и исследованы неохлаждаемые GaSb/GaAlAsSb-фотодиоды для спектрального диапазона 1.1–1.85 мкм. Уникальный метод выращивания GaSb из свинцовых растворов-расплавов позволил достичь низкой концентрации носителей в активной области $n$ = 2 $\cdot$ 10$^{15}$ см$^{-3}$. Емкость фотодиодов составляла 70–110 пФ при диаметре чувствительной площадки 300 мкм и 150-250 пФ при диаметре 500 мкм соответственно. Для приборов на основе GaSb разработанные фотодиоды характеризуются высокой спектральной чувствительностью $S_\lambda$ = 0.95 А/Вт в максимуме, относительно малой величиной плотности обратного темнового тока $j$ = (4–9) $\cdot$ 10$^{-3}$ А/см$^{2}$ при $U_{\operatorname{rev}}$ = 1.0–2.0 В, высоким быстродействием (время отклика 5–10 нс).

Поступила в редакцию: 29.01.2017
Принята в печать: 05.02.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.09.46158.8830


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:9, 1215–1220

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024