RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 7, страницы 699–701 (Mi phts5775)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Электронные свойства полупроводников

Фотопорог слоистого кристалла $\alpha$-GeS: расчет из первых принципов

З. А. Джахангирлиab, Ф. М. Гашимзадеa, Д. А. Гусейноваa, Б. Г. Мехтиевa, Н. Б. Мустафаевa

a Институт физики НАН Азербайджана, Баку, Азербайджан
b Азербайджанский технический университет, г. Баку

Аннотация: Из первых принципов на основе метода функционала плотности рассчитан фотопорог слоистого кристалла $\alpha$-GeS в зависимости от его толщины. Для моделирования кристалла конечной толщины использовался метод периодических пластин. Две соседние кристаллические пластины, состоящие из нескольких слоев, разделялись вакуумом толщиной в 4 слоя, что соответствует удвоенному размеру элементарной ячейки объемного кристалла. Показано, что при толщине кристалла более 10 слоев величина фотопорога практически не меняется.

Поступила в редакцию: 04.04.2017
Принята в печать: 29.11.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.07.46037.8602


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:7, 840–842

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024