RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 7, страницы 702–707 (Mi phts5776)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Влияние примеси бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$

А. Н. Терещенкоab, Д. С. Королевb, А. Н. Михайловb, А. И. Беловb, А. А. Никольскаяb, Д. А. Павловb, Д. И. Тетельбаумb, Э. А. Штейнманa

a Институт физики твердого тела Российской академии наук, г. Черноголовка Московской обл.
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Исследовано влияние имплантации бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$ с последующим отжигом. Показано, что имплантация ионов B$^{+}$ существенным образом влияет как на интенсивность и состав спектра дислокационной люминесценции, так и на ход температурной зависимости интенсивности полосы D1. Обнаружено, что зависимость не является монотонной и имеет две области возрастания интенсивности полосы D1 с ростом температуры, образуя максимумы при 20 и 60–70 K на температурной зависимости. Максимум при 20 K связан с особенностями морфологии исследуемой дислокационной структуры, в то время как максимум при 60–70 K связан с дополнительной имплантацией примеси бора в дислокационную область образцов. Установлено, что интенсивности наблюдаемых максимумов, а также положение высокотемпературного максимума зависят от концентрации имплантированных ионов B$^{+}$.

Поступила в редакцию: 31.10.2017
Принята в печать: 08.11.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.07.46038.8759


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:7, 843–848

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024