RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 7, страницы 816–818 (Mi phts5796)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Концентрические гексагональные структуры GaN для нанофотоники, изготовленные селективной газофазной эпитаксией с использованием ионного травления

М. И. Митрофановab, Я. В. Левицкийab, Г. В. Вознюкc, Е. Е. Татариновc, С. Н. Родинab, М. А. Калитеевскийacd, В. П. Евтихиевa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
d Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методом селективной газофазной эпитаксии в окнах, сформированных сфокусированным ионным пучком, в слое Si$_{3}$N$_{4}$ были сформированы коаксиальные и одиночные GaN-структуры субмикронных размеров гексагональной формы с пирамидальными гранями. Установлено, что при росте структур в окнах маски, имеющих кольцевую форму, в процессе роста происходит формирование коаксиальных гексагональных структур.

Поступила в редакцию: 18.12.2017
Принята в печать: 18.12.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.07.46058.8797


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:7, 954–956

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024