Аннотация:
Методом селективной газофазной эпитаксии в окнах, сформированных сфокусированным ионным пучком, в слое Si$_{3}$N$_{4}$ были сформированы коаксиальные и одиночные GaN-структуры субмикронных размеров гексагональной формы с пирамидальными гранями. Установлено, что при росте структур в окнах маски, имеющих кольцевую форму, в процессе роста происходит формирование коаксиальных гексагональных структур.
Поступила в редакцию: 18.12.2017 Принята в печать: 18.12.2017