RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 6, страницы 664–670 (Mi phts5819)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Лазерно-индуцированная модификация поверхности тонких пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$: фазовые изменения и формирование периодических структур

С. А. Яковлевa, А. В. Анкудиновab, Ю. В. Воробьевc, М. М. Вороновa, С. А. Козюхинd, Б. Т. Мелехa, А. Б. Певцовa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c Рязанский государственный радиотехнический университет
d Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова РАН, г. Москва

Аннотация: На поверхности пленочных материалов с фазовой памятью на основе сложного халькогенида (Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$) под действием лазерных импульсов наносекундной длительности сформированы субмикронные периодические решетки. Геометрические характеристики и структурные свойства лазерно-индуцированных решеток исследованы с помощью оптической и атомно-силовой микроскопии, а также рамановской спектроскопии. Показано, что при специально подобранных параметрах лазерного воздействия в созданных структурах можно реализовать периодическую модуляцию показателя преломления, обусловленную застыванием после лазерного воздействия гребней и впадин решеток в разных фазовых состояниях, диэлектрические константы которых сильно отличаются друг от друга. Вблизи максимумов волнообразной структуры формируется преимущественно аморфное состояние, в то время как в области минимумов структура Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$ в основном соответствует кристаллической фазе.

Поступила в редакцию: 31.10.2017
Принята в печать: 08.11.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.06.45933.8757


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:6, 809–815

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024