RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 12, страницы 1621–1629 (Mi phts5964)

XXI Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 13-16 марта 2017 г.

Активационная проводимость в квантовых ямах HgTe/CdHgTe при целочисленных факторах заполнения уровней Ландау: роль случайного потенциала

Л. С. Бовкунab, А. В. Иконниковac, В. Я. Алешкинad, С. С. Криштопенкоa, А. В. Антоновa, К. Е. Спиринa, Н. Н. Михайловef, С. А. Дворецкийe, В. И. Гавриленкоad

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Laboratoire National des Champs Magnetiques Intenses, CNRS-UJF-UPS-INSA, France
c Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
d Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
e Институт физики полупроводников СО РАН, г. Новосибирск
f Новосибирский государственный университет

Аннотация: В квантовых ямах HgTe/CdHgTe шириной 8 нм с концентрацией электронов (1.7–13) $\cdot$ 10$^{11}$ см$^{-2}$ проведены исследования осцилляций Шубникова–де-Гааза в диапазоне температур от 1.6 до 40 K. Из анализа температурной зависимости амплитуды осцилляций при целочисленных факторах заполнения определены значения щелей между уровнями Ландау и квантовое время рассеяния. Экспериментальные значения щелей находятся в хорошем согласии с результатами одноэлектронных расчетов энергий уровней в рамках 8-зонной модели Кейна. Полученные экспериментальные значения ширины плотности состояний свидетельствуют о сильном экранировании обменного взаимодействия в квантовых ямах HgTe/CdHgTe.

Поступила в редакцию: 27.04.2017
Принята в печать: 12.05.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.12.45175.38


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:12, 1562–1570

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024