RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 10, страницы 1400–1403 (Mi phts6025)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$, полученных в матрице пористого оксида алюминия,

А. И. Чукавин, Р. Г. Валеев, А. Н. Бельтюков

Физико-технический институт Уральского отделения Российской Академии наук, Ижевск, Россия

Аннотация: Наноструктуры полупроводниковых соединений ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$ ($x$ = 0, 0.1, 0.3, 0.5, 0.7, 1) были синтезированы с использованием темплатного метода, основанного на формировании наночастиц полупроводника в шаблонах пористого анодного оксида алюминия при помощи метода вакуумного термического испарения смеси порошков ZnS и ZnSe. Представлены результаты исследований элементного состава полученных наноструктур в зависимости от состава исходной смеси и параметров матрицы-подложки методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что состав наноструктур близок к составу исходных порошков и может быть задан соотношением ZnS/ZnSe в исходной смеси.

Поступила в редакцию: 12.12.2016
Принята в печать: 29.03.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.10.45020.8381


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:10, 1350–1353

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024