RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 8, страницы 1085–1087 (Mi phts6074)

Электронные свойства полупроводников

Примесные уровни в кристаллах Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$

С. М. Чупыра, О. Г. Грушка, С. В. Биличук

Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича

Аннотация: Исследованы параметры примесных уровней в образцах Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$, при использовании температурных зависимостей концентрации электронов $n(T)$ и энергии Ферми $E_{F}(T)$, полученных по данным коэффициента Холла $R(T)$ и термоэдс $\alpha(T)$. Приведенный дифференциальный анализ зависимостей $n(T)$ показал, что изменяя степень компенсации с помощью термообработки образцов, можно зафиксировать более широкий спектр примесных уровней в запрещенной зоне Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$.

Поступила в редакцию: 06.12.2016
Принята в печать: 01.02.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.08.44794.8476


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:8, 1041–1043

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024