RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 7, страницы 933–936 (Mi phts6103)

XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.

Соотношения симметрии и структурный код слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)

М. А. Коржуев, Ф. Б. Михайлова, М. А. Кретова, Е. С. Авилов

Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, Москва, Россия

Аннотация: Проведен анализ кристаллических структур слоистых кристаллов – тройных сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)Te(Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$) (пространственные группы симметрии $R\bar3m$, $P\bar3m_1$ и $P2_{1}/m$). Определены соотношения соподчинения между различными группами симметрии тройных сплавов. Установлен структурный код кристаллов семейства, учитывающий их состав, кристаллическую структуру и термодинамическую устойчивость слоевых пакетов, образующих сверхструктуры.

Поступила в редакцию: 27.12.2016
Принята в печать: 12.01.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44646.32


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:7, 894–897

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024