RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 4, страницы 529–534 (Mi phts6189)

Эта публикация цитируется в 18 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Генерация и детектирование терагерцевого излучения в низкотемпературных эпитаксиальных пленках GaAs на подложках GaAs с ориентациями (100) и (111)A

Г. Б. Галиевa, С. С. Пушкаревa, А. М. Буряковb, В. Р. Билыкb, Е. Д. Мишинаb, Е. А. Климовa, И. С. Васильевскийc, П. П. Мальцевa

a Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН, г. Москва
b МИРЭА — Российский технологический университет, г. Москва
c Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва

Аннотация: Методом терагерцевой спектроскопии исследована эффективность генерации и детектирования ТГц-излучения в диапазоне до 3 ТГц пленками LT-GaAs, содержащими легирующие эквидистантные $\delta$-слои Si и выращенными методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках GaAs с ориентациями (100) и (111)А. На поверхности пленок были изготовлены микрополосковые фотопроводящие антенны. Генерация ТГц-излучения происходила при облучении зазора антенны фемтосекундными оптическими лазерными импульсами. Показано, что интенсивность ТГц-излучения от фотопроводящей антенны на LT-GaAs/GaAs (111)A в 2 раза больше, чем от такой же антенны на LT-GaAs/GaAs (100), а чувствительность антенны на LT-GaAs/GaAs (111)A как детектора ТГц-излучения в 1.4 раза превосходит чувствительность антенны на LT-GaAs/GaAs (100).

Поступила в редакцию: 20.09.2016
Принята в печать: 26.09.2016

DOI: 10.21883/FTP.2017.04.44347.8408


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:4, 503–508

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024