RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 3, страницы 386–389 (Mi phts6215)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Физика полупроводниковых приборов

Исследование глубоких центров в микроплазменных каналах фосфидгаллиевых светодиодов зеленого спектра излучения

В. К. Ионычев, А. А. Шестеркина

Мордовский государственный университет, г. Саранск

Аннотация: Проведено исследование статистической задержки микроплазменного пробоя в фосфидгаллиевых светодиодах зеленого спектра излучения. В температурном диапазоне 300–380 K обнаружено необычное сильное влияние глубоких центров на статистическую задержку лавинного пробоя при изменении их зарядового состояния снижением обратного напряжения на $p$$n$-переходе. Выявлено четыре глубоких уровня и определены их параметры.

Поступила в редакцию: 16.02.2016
Принята в печать: 27.07.2016

DOI: 10.21883/FTP.2017.03.44213.8208


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:3, 370–373

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024