RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 12, страницы 1644–1646 (Mi phts6286)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XX Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 14-18 марта 2016 г.

Пассивация поверхности GaAs нитевидных нанокристаллов с помощью молекулярного наслаивания AlN

И. В. Штромabc, А. Д. Буравлевabc, Ю. Б. Самсоненкоbcd, А. И. Хребтовbd, И. П. Сошниковabc, Р. Р. Резникbde, Г. Э. Цырлинdcb, V. Dhakaf, A. Perrosf, H. Lipsanenf

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
d Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
e Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
f Aalto University, Finland

Аннотация: Продемонстрировано, что молекулярное наслаивание тонких слоев AlN может быть использовано для пассивации поверхностных состояний GaAs нитевидных нанокристаллов, синтезированных с помощью молекулярно-пучковой эпитаксии. Исследование оптических свойств образцов методом низкотемпературной фотолюминесценции показало, что интенсивность сигнала фотолюминесценции может быть увеличена вплоть до 5 раз при пассивации нитевидных нанокристаллов слоем AlN с толщиной 25 $\mathring{\mathrm{A}}$.

Поступила в редакцию: 27.04.2016
Принята в печать: 10.05.2016


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:12, 1619–1621

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024