RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 10, страницы 1414–1419 (Mi phts6348)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Исследование импульсных характеристик полупроводниковых лазеров с расширенным волноводом при низких температурах (110–120 K)

Д. А. Веселов, И. С. Шашкин, Ю. К. Бобрецова, К. В. Бахвалов, А. В. Лютецкий, В. А. Капитонов, Н. А. Пихтин, С. О. Слипченко, З. Н. Соколова, И. С. Тарасов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Исследованы импульсные полупроводниковые лазеры, излучающие в спектральных диапазонах 1000–1100 и 1400–1600 нм при температурах 110–120 K, изготовленные методом МОС-гидридной эпитаксии. Установлено, что охлаждение до температур лазеров обоих спектральных диапазонов приводит к приближению ватт-амперных характеристик к линейным и достижению оптических мощностей 110 и 20 Вт соответственно. В лазерах, излучающих в спектральном диапазоне 1400–1600 нм, эффект низких температур ослаблен. Рассмотрены процессы, влияющие на увеличение внутренних оптических потерь в полупроводниковых лазерах. Показано, что рост концентрации носителей заряда в волноводе лазерной структуры сильно зависит от температуры и определяется не мгновенным захватом (скоростью захвата) носителей заряда из волновода в активную область. Показано, что при понижении температуры до 115 K концентрация электронов и дырок в волноводе понижается, что приводит к существенному снижению внутренних оптических потерь и увеличению выходной оптической мощности полупроводникового лазера.

Поступила в редакцию: 18.04.2016
Принята в печать: 22.04.2016


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:10, 1396–1402

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024