RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 7, страницы 1001–1006 (Mi phts6428)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Способ получения пленок ITO с контролируемым значением показателя преломления

Л. К. Марковa, И. П. Смирноваa, А. С. Павлюченкоa, М. В. Кукушкинab, Д. А. Закгеймa, С. И. Павловa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b ЗАО "ЭПИ-ЦЕНТР", Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Предложен способ создания прозрачных проводящих покрытий на основе оксида индия и олова с контролируемым значением показателя преломления. Способ заключается в последовательном нанесении материала методами электронно-лучевого испарения и магнетронного распыления. Разная плотность получаемых покрытий и соответственно различные значения их показателя преломления достигаются варьированием соотношения массовых долей вещества, наносимого разными методами. В качестве примера продемонстрировано получение пленок с эффективными значениями показателя преломления 1.2, 1.4, 1.7 в диапазоне длин волн 440–460 нм. На основе предложенного метода также созданы двухслойные покрытия ITO с контролируемым значением показателя преломления входящих в них слоев, что открывает возможность получения многослойных прозрачных проводящих покрытий с требуемыми оптическими свойствами.

Поступила в редакцию: 23.12.2015
Принята в печать: 28.12.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:7, 984–988

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024