RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1987, том 21, выпуск 4, страницы 633–637 (Mi phts648)

Исследование плотности электронных состояний в разрешенных зонах на поверхности (CdHg)Te

А. М. Яфясов, В. Б. Божевольнов, А. Д. Переплкин


Аннотация: Приведены результаты экспериментального исследования плотности электронных и дырочных состояний в разрешенных зонах в приповерхностной области Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te с ${x=0.2{-}0.3}$ методом эффекта поля в электролитах. Показано, что валентная зона и зона проводимости описываются непараболическим законом дисперсии в кейновском приближении; определены значения эффективных масс плотностей состояний в зонах (CdHg)Te на поверхности. Показано, что для образцов с ${x=0.25}$, характеризующихся минимальной плотностью дислокаций и низкой плотностью поверхностных состояний, на электронной ветви вольтфарадной характеристики наблюдается тонкая ступенчатая структура. Сделано предположение о квантовой природе тонкой структуры.



© МИАН, 2024