RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 3, страницы 377–381 (Mi phts6519)

Эта публикация цитируется в 13 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Влияние приповерхностного слоя на электрохимическое осаждение металлов и полупроводников в мезопористый кремний

Е. Б. Чубенко, С. В. Редько, А. И. Шерстнев, В. А. Петрович, Д. А. Котов, В. П. Бондаренко

Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники

Аннотация: Проведены исследования влияния приповерхностного слоя на процесс электрохимического осаждения металлов и полупроводников в пористый кремний. Показано, что данный слой имеет отличные от основного объема пористого кремния структуру и электрофизические характеристики. Установлено, что уменьшение электропроводности кремниевых кристаллитов, образующих приповерхностный слой пористого кремния, оказывает положительное влияние на процесс заполнения пористого кремния металлами и полупроводниками, что продемонстрировано на примере никеля и оксида цинка. Это может быть использовано для создания нанокомпозитных материалов на основе пористого кремния и наноструктур с высоким аспектным соотношением.

Поступила в редакцию: 28.05.2015
Принята в печать: 14.07.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:3, 372–376

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024