RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2024, том 58, выпуск 10, страницы 552–555 (Mi phts6800)

Международная конференция ФизикА.СПб/2024, 21-25 октября 2024 г., Санкт-Петербург

Исследование с помощью микро-рамановской спектроскопии радиационных дефектов, сформированных сфокусированным ионным пучком Ga$^+$ в структуре GaAs/Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$As

Г. В. Вознюкa, И. Н. Григоренкоa, А. С. Лилаab, М. И. Митрофановa, А. В. Бабичевb, А. Н. Смирновa, Д. Н. Николаевa, С. О. Слипченкоa, В. Ю. Давыдовa, А. Ф. Цацульниковc, В. П. Евтихиевa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, 197101 Санкт-Петербург, Россия
c Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методом рамановской спектроскопии исследованы литографические рисунки, сформированные сфокусированным ионным пучком Ga$^+$ в гетероструктуре GaAs/Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$As. Было обнаружено, что в ходе травления происходит накопление радиационных дефектов, концентрация которых зависит от энергии ионов и ионной дозы. Показано, что выбор режимов травления и отжига позволяют восстанавливать кристаллическое совершенство гетероструктуры.

Ключевые слова: микро-рамановская спектроскопия, сфокусированный ионный пучок, радиационные дефекты, гетероструктура.

Поступила в редакцию: 03.05.2024
Исправленный вариант: 31.07.2024
Принята в печать: 30.10.2024

DOI: 10.61011/FTP.2024.10.59379.6609A



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025