RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2024, том 58, выпуск 12, страницы 709–713 (Mi phts6825)

Физика полупроводниковых приборов

Метаморфный InGaAs-фотодиод на длине волны 1.55 мкм, выращенный на подложке GaAs

И. В. Самарцевa, Н. В. Байдусьa, С. Ю. Зубковa, Д. М. Балясниковa, К. С. Жидяевa, А. В. Здоровейщевa, А. И. Бобровa, К. В. Сидоренкоa, А. В. Неждановa, Д. С. Клементьевb

a Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603022 Нижний Новгород, Россия
b РФЯЦ-ВНИИЭФ НИИИС им. Ю.Е. Седакова, 603952 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Приведены результаты исследований по созданию фотодиодов на длине волны 1.55 мкм, сформированных на подложках GaAs. InGaAs фотодиодные структуры c InAlGaAs метаморфным буферным слоем с квазикорневым изменением концентрации In выращивались методом МОС-гидридной эпитаксии. Фотодиоды, изготовленные на основе полученных структур, имели область фоточувствительности до 1.68 мкм. Плотность темнового тока при обратном смещении -2 В составила 3$\cdot$10$^{-3}$ A/см$^2$. Токовая фоточувствительность на длине волны 1.55 мкм составила 0.6 А/Вт.

Ключевые слова: МОС-гидридная эпитаксия, наноматериалы, полупроводники A$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$, инфракрасные фотодиоды, темновой ток.

Поступила в редакцию: 15.11.2024
Исправленный вариант: 21.11.2024
Принята в печать: 18.12.2024

DOI: 10.61011/FTP.2024.12.59832.7348



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025