RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2023, том 57, выпуск 4, страницы 295–300 (Mi phts6872)

Физика полупроводниковых приборов

Исследование динамики включения низковольтных InP-гомотиристоров

С. О. Слипченко, О. С. Соболева, А. А. Подоскин, Ю. К. Кириченко, Т. А. Багаев, И. В. Яроцкая, Н. А. Пихтин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: С использованием методов численного моделирования проведены исследования серии конструкций гетероструктур низковольтных гомотиристоров InP. В качестве базовой рассматривалась конструкция со слоем объемного заряда, сформированным в области $p$-базы $n$$p$$n$-транзисторной части. Исследованы динамические характеристики и процессы, определяющие скорость перехода во включенное состояние. Показано, что при увеличении толщины $p$-базы с 1 до 2.6 мкм достигаемые максимальные токи в открытом состоянии увеличиваются с 70 до 90 А, при этом минимальное время перехода во включенное состояние достигает 11 нс при максимальном блокируемом напряжении 55 В. Продемонстрировано, что эффективность работы во включенном состоянии определяется остаточным напряжением, величина которого снижается при уменьшении толщины $p$-базы.

Ключевые слова: тиристор, ударная ионизация, дрейф-диффузионная модель.

Поступила в редакцию: 13.04.2023
Исправленный вариант: 18.05.2023
Принята в печать: 18.05.2023

DOI: 10.21883/FTP.2023.04.55901.4851



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025