Аннотация:
Исследовались свойства монокристаллического
низкоомного и полуизолирующего арсенида галлия после введения атомарного
водорода методами емкостной и фотоэлектрической релаксационной спектроскопии,
фото- и катодолюминесценции. Показано, что процесс гидрогенизации образцов
приводит к значительному уменьшению концентраций свободных носителей заряда
и всех наблюдавшихся электрически активных локальных центров, в том числе
основной электронной ловушки EL2. Указанный эффект пассивации
связывается с образованием нейтральных D$-$H-комплексов дефект–водород;
обнаружено, что энергетический барьер образования D$-$H-комплексов и энергии
их связи для мелких центров заметно ниже, чем для глубоких типа EL2.