RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2022, том 56, выпуск 2, страницы 173–177 (Mi phts6991)

XVII Межгосударственная конференция ''Термоэлектрики и их применения -- 2021" (ISCTA 2021 Санкт-Петербург, 13-16 сентября, 2021)

Исследование влияния технологических факторов на неопределенность результатов измерения теплопроводности методом лазерной вспышки

Е. С. Макарова, А. В. Асач, И. Л. Тхоржевский, В. Е. Фомин, А. В. Новотельнова, В. В. Митропов

Университет ИТМО, 197101 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Проведена оценка отклонения в измерениях теплопроводности методом лазерной вспышки для материалов с различным коэффициентом теплопроводности, возникающая вследствие наличия графитового покрытия на образце и малой толщины образца. Создана компьютерная модель метода в программной среде Comsol Multiphysics. Для массивных образцов при толщине графитового покрытия 20 мкм отклонение составляет 5.5%. Толщина массивных образцов не влияет на результаты измерения. Для материалов с низкой теплопроводностью наблюдается резкий рост отклонения, достигающий 60%. Для теплопроводящих материалов отклонение составляет 16–18%. Для тонких образцов толщиной $<$ 10 мкм толщина графитового покрытия не влияет на результаты измерений. Определяющим является длительность лазерного импульса.

Ключевые слова: метод лазерной вспышки, теплопроводность, нормированное отклонение.

Поступила в редакцию: 20.10.2021
Исправленный вариант: 25.10.2021
Принята в печать: 25.10.2021

DOI: 10.21883/FTP.2022.02.51957.30a



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025