RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2022, том 56, выпуск 5, страницы 491–494 (Mi phts7044)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Состав и электронная структура скрытых наноразмерных фаз и слоев BaSi$_2$, созданных в приповерхностной области Si

Б. Е. Умирзаковa, М. Т. Нормурадовb, Д. А. Нормуродовb, И. Р. Бекпулатовb

a Ташкентский государственный технический университет, 100095 Ташкент, Узбекистан
b Каршинский государственный университет, 180103 Карши, Узбекистан

Аннотация: Впервые методом имплантации ионов Ва$^+$ с энергией $E_0$ = 20–30 кэВ в приповерхностном слое Si(111) получены наноразмерные фазы и слои BaSi$_2$. В частности, показано, что при дозе $D\approx$ 10$^{15}$ см$^{-2}$ формируются нанофазы с шириной запрещенной зоны $E_g\approx$ 0.85 эВ, а при $D\approx$ 10$^{17}$ см$^{-2}$ нанослой BaSi$_2$ с $E_g$ = 0.67 эВ. Состав и структура наноструктуры дисилицида бария были исследованы спектроскопией поглощения света методами электронной оже-спектроскопии, а рентгеновская морфология поверхности изучалась методом растровой электронной микроскопии. Установлены оптимальные режимы ионной имплантации и отжига для получения наноразмерных фаз и слоев BaSi$_2$ в приповерхностной области Si. С использованием метода спектроскопии поглощения света оценены ширина запрещенных зон и степень покрытия слоя нанофазами BaSi$_2$. Показано, что при дозе $D\ge$ 6$\cdot$10$^{16}$ см$^{-2}$ формируется нанослой BaSi$_2$.

Ключевые слова: ионная имплантация, наноструктура, нанофаза, отжиг, дисилицид бария, оже-электроны, степень покрытия.

Поступила в редакцию: 29.12.2021
Исправленный вариант: 10.01.2022
Принята в печать: 10.01.2022

DOI: 10.21883/FTP.2022.05.52351.9795



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025