RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 1, страницы 15–20 (Mi phts7176)

XVIII симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" , Нижний Новгород, 10-14 марта 2014 г.

Спонтанное излучение терагерцового диапазона частот при оптическом возбуждении доноров в SiGe/Si и одноосно-деформированном объемном кремнии

Р. Х. Жукавинa, К. А. Ковалевскийa, М. Л. Орловa, В. В. Цыпленковa, Н. А. Бекинa, А. Н. Яблонскийa, П. А. Юнинa, S. G. Pavlovb, N. V. Abrosimovc, H.-W. Hubersbd, H. H. Radamsone, В. Н. Шастинaf

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Institute of Planetary Research, German Aerospace Center, 12489 Berlin, Germany
c Institute for Crystal Growth, 12489 Berlin, Germany
d Institut für Optik und Atomare Physik, Technische Universität Berlin, 10623 Berlin, Germany
e Royal Institute of Technology (KTH), 16640 Kista, Sweden
f Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Представлены результаты измерений интегральной фотолюминесценции терагерцового диапазона частот доноров V группы (фосфор, сурьма, висмут, мышьяк) в объемном кремнии и SiGe/Si гетероструктурах (фосфор) в зависимости от интенсивности возбуждения. Сигнал из объемного кремния также измерялся как функция одноосной деформации. Результаты измерений зависимости интенсивности спонтанного излучения от одноосной деформации достаточно хорошо согласуются с теоретическими расчетами времен релаксации возбужденных состояний доноров в объемном кремнии. Сравнительные измерения спонтанного излучения из различных напряженных гетероструктур показали, что сигнал фотолюминесценции обусловлен легированными донорами кремниевыми областями.

Поступила в редакцию: 23.05.2014
Принята в печать: 15.06.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:1, 13–18

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025