Характеристики диодных структур на основе фуллерена на полимерных и стеклянных подложках

В сандвич-структурах Al/C$_{60}$/ITO/подложка исследовано строение верхнего интерфейса Al/C$_{60}$ (Al – термически осажденный слой алюминия, С$_{60}$ – термически осажденный слой фуллерена, ITO – двойной оксид индия-олова, подложка – лавсан или стекло) методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (TоF-SIMS) с анализом по глубине. Исследование стимулировано обнаруженными особенностями фотовольтаического эффекта в фуллеренсодержащих сандвич-структурах на стеклянных и полимерных подложках. Установлено, что химический состав верхнего интерфейса Al/C$_{60}$ на разных подложках неодинаков. Это приводит к различиям в параметрах фотопреобразования для более сложных тонкопленочных структур с молекулярным гетеропереходом.