RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 3, страницы 376–378 (Mi phts7239)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Электрические свойства структур Pd-оксид-InP

Е. А. Гребенщиковаa, В. В. Евстроповa, Н. Д. Ильинскаяa, Ю. С. Мельниковb, О. Ю. Серебренниковаa, В. Г. Сидоровb, В. В. Шерстневa, Ю. П. Яковлевa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: С целью создания датчика водорода, способного эффективно работать при комнатной температуре, изготовлены МОП структуры Pd-анодный оксид-InP. Изучены механизмы проводимости структур при 100–300 K. Установлено, что оксид ведет себя как омическое сопротивление, а выпрямляющие свойства структур определяются потенциальным барьером на границе оксид-InP с термотуннельным механизмом проводимости. Структуры существенно изменяют свои характеристики в присутствии водорода в окружающей среде.

Поступила в редакцию: 18.08.2014
Принята в печать: 25.08.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:3, 364–366

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025