RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 8, страницы 1056–1060 (Mi phts7358)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Улучшение деградационной стойкости кремниевых наноструктур осаждением алмазоподобных углеродных пленок

Н. И. Клюйa, Н. А. Семененкоa, И. М. Хацевичa, А. В. Макаровa, А. Н. Кабалдинa, Ф. В. Фомовскийb, Вэй Ханьc

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, 03028 Киев, Украина
b Кременчугский национальный университет имени Михаила Остроградского, 03028 Кременчуг, Украина
c Институт физики, Дзилинский университет, 130012 Чаньчунь, КНР

Аннотация: Установлено, что осаждение алмазоподобной углеродной пленки на структуру с нанокластерами кремния в матрице диоксида кремния приводит к повышению интенсивности длинноволновой фотолюминесценции нанокластеров кремния благодаря пассивации рекомбинационно-активных центров водородом и к смещению максимума фотолюминесценции в область большей фоточувствительности солнечных элементов на основе кремния. Также показано, что деградационная стойкость таких структур к действию $\gamma$-облучения улучшается благодаря осаждению алмазоподобной углеродной пленки, что также обусловлено эффектом пассивации радиационно-индуцированных рекомбинационо-активных центров водородом, который высвобождается из пленки во время обработки.


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:8, 1030–1034

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025