RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 9, страницы 1202–1205 (Mi phts7383)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Электронные свойства полупроводников

Особенности электропроводности TlInSe$_2$ при фото- и рентгеновском возбуждениях

Р. С. Мадатовab, А. И. Наджафовa, Ю. М. Мустафаевa, М. Р. Газанфаровa, И. М. Мовсумоваc

a Институт радиационных проблем Национальной академии наук Азербайджана, Az-1143 Баку, Азербайджан
b Национальная академия авиации, Az-1045 Баку, Азербайджан
c Гянджинский государственный университет, Az-2000 Гянджа, Азербайджан

Аннотация: Исследованы вольт-амперные характеристики кристаллов TlInSe$_2$ при фото- и рентгеновских возбуждениях. Вычислены параметры ловушки, которые равны $N_t$ = 5 $\cdot$ 10$^{16}$ см$^{-3}$, $n_t$ = 4.5 $\cdot$ 10$^{12}$ см$^{-3}$ и $\Delta E_t$ = 0.42 эВ при 300 K. Вычисленные значения $N_t$ и $n_t$ после рентгеновского возбуждения оказались 3 $\cdot$ 10$^{16}$ см$^{-3}$ и 3.2 $\cdot$ 10$^{12}$ см$^{-3}$ соответственно. Исследованы зависимости коэффициентов рентгенопроводимости от интенсивностей облучения для монокристаллов TlInSe$_2$ при различных ускоряющих напряжениях $V_a$ и определено, что величина коэффициента рентгенопроводимости $K_\sigma$ экспоненциально уменьшается с ростом ускоряющего напряжения $V_a$ и дозы облучения.

Поступила в редакцию: 03.03.2015
Принята в печать: 09.03.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:9, 1166–1169

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025