RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 10, страницы 1325–1328 (Mi phts7402)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Электронные свойства полупроводников

Исследование токовых неустойчивостей в гетеропереходах Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М

Т. С. Камиловa, Л. Л. Аксеноваb, Б. З. Шариповa, И. В. Эрнстa

a Ташкентский государственный технический университет, 100095 Ташкент, Узбекистан
b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, 119333 Москва, Россия

Аннотация: Исследованы особенности токовых неустойчивостей в гетеропереходах Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М при низких температурах и при “собственном” освещении с $h\nu\ge$ 1.12 эВ. Показано, что при высоких приложенных напряжениях можно получить автоколебания низкой частоты, связанные с усилением и гашением фотопроводимости.

Поступила в редакцию: 24.02.2015
Принята в печать: 12.03.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:10, 1281–1284

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025