RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 10, страницы 1397–1401 (Mi phts7417)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Аморфные, стеклообразные, органические полупроводники

Рентгенофлуоресцентный анализ стекол Ge$_{1-x}$Se$_x$, As$_{1-x}$Se$_x$ и Ge$_{1-x-y}$As$_y$Se$_x$ с использованием электронного возбуждения

Е. И. Теруковa, П. П. Серегинb, А. В. Марченкоb, Д. В. Жилинаa, К. У. Бобохужаевc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, 191186 Санкт-Петербург, Россия
c Национальный университет Узбекистана, 100174 Ташкент, Узбекистан

Аннотация: Метод рентгенофлуоресцентного анализа с возбуждением флуоресценции пучком электронов с энергией 30 кВ применен для определения содержания германия, мышьяка и селена в стеклообразных сплавах Ge$_{1-x}$Se$_x$, As$_{1-x}$Se$_x$ и Ge$_{1-x-y}$As$_y$Se$_x$. С использованием калибровочных зависимостей количественный состав стекол определен с точностью $\pm$ 0.0002 по параметрам $x$ и $y$ в поверхностном слое глубиной $\sim$ 0.1 мкм.

Поступила в редакцию: 19.02.2015
Принята в печать: 25.02.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:10, 1352–1356

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025