RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 2, страницы 196–202 (Mi phts7509)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Массоперенос в приповерхностных слоях GaAs под воздействием излучения миллиметровых волн малой мощности

Т. А. Брянцеваa, Д. В. Любченкоb, В. Е. Любченкоa, И. А. Марковa, Р. И. Марковa

a Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, 141190 Фрязино, Россия
b Aalto University, P.O. Box 3000, Espoo, Finland

Аннотация: Проведено исследование процессов массопереноса по результатам химического анализа приповерхностных слоев арсенида галлия после облучения поверхности GaAs электромагнитными волнами малой мощности 13–25 мВт при частоте 75 ГГц. Показано, что под воздействием излучения изменяются электромеханические напряжения на поверхности GaAs и возникают процессы релаксации с участием массопереноса заряженных частиц. В результате облучения выпадают островки на основе раствора (Ga + As) или соединения GaAs и изменяется изгиб поверхности базисного GaAs. Массоперенос при этом определяется дрейфом заряженных частиц под воздействием электрического напряжения и скоростью поверхностной самодиффузии под действием механических напряжений.

Поступила в редакцию: 22.04.2013
Принята в печать: 22.05.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:2, 184–190

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025