RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 2, страницы 253–258 (Mi phts7521)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Действие тормозного гамма-нейтронного излучения на параметры индий-селеновых фотопреобразователей

О. Н. Сидорa, О. А. Сидорa, З. Д. Ковалюкa, В. И. Дубинкоb

a Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича, 58001 Черновцы, Украина
b НИК "Ускоритель" ННЦ "Харьковский физико-технический институт" Национальной академии наук Украины, 61108 Харьков, Украина

Аннотация: Впервые изучено влияние тормозного гамма-нейтронного облучения (эффективная энергия $E_{\mathrm{eff}}$ = 8 МэВ) флюенсами 10$^{12}$–10$^{13}$ н/см$^2$ на электрические и фотоэлектрические параметры слоистых фотопреобразователей $p$$n$-InSe. Даже при максимальном флюенсе облучения обнаружены улучшение их вольт-амперных характеристик, рост напряжения холостого хода при незначительном уменьшении тока короткого замыкания. Существенных изменений спектрального контура фотоответа в целом не установлено. В то же время даже начальная стадия облучения вызвала сильную деградацию параметров тестовых кремниевых солнечных элементов. Данный факт позволяет рекомендовать исследуемые фотодиоды для использования в качестве радиационно стойких фотодетекторов.

Поступила в редакцию: 21.02.2013
Принята в печать: 11.03.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:2, 239–244

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025