RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 3, страницы 327–333 (Mi phts7534)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Эффект поля в тонких пленках полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда

И. С. Дубицкий, А. М. Яфясов

Санкт-Петербургский государственный университет (физический факультет, кафедра электроники твердого тела), 199034 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Предложена методика расчета параметров области пространственного заряда тонких пленок полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда при комнатных температурах. Реализована процедура самосогласованного решения уравнений Пуассона, Клейна–Гордона–Фока и Шредингера для соединения кадмий–ртуть–теллур. Получены точные подзонные законы дисперсии. Обнаружены явления линеаризации хода потенциала в тонких пленках и установлены границы применимости приближения треугольной ямы. Проведено сравнение хода потенциала в пленке, плотности заряда и вольт-фарадных характеристик, вычисленных в рамках приближения эффективной массы и феноменологической теории. Установлены границы применимости феноменологического описания области пространственного заряда. Выявлено влияние подсистемы тяжелых дырок на основные характеристики области пространственного заряда.

Поступила в редакцию: 20.05.2013
Принята в печать: 20.06.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:3, 312–319

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025