RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 3, страницы 388–391 (Mi phts7543)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Линейки лазерных диодов на основе гетероструктур AlGaAsP/GaAs, излучающие на длине волны 850 нм

В. В. Шамахов, А. В. Лютецкий, К. В. Бахвалов, И. С. Шашкин, М. Г. Растегаева, С. О. Слипченко, Н. А. Пихтин, И. С. Тарасов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методом МОС-гидридной эпитаксии выращены 2 типа лазерных гетероструктур – без компенсации внутренних напряжений, с эмиттерными и волноводными слоями из твердого раствора AlGaAs (тип 1), и лазерные гетероструктуры с компенсацией напряжений, с эмиттерными и волноводными слоями AlGaAsP (тип 2). Изготовлены линейки лазерных диодов шириной 5 мм и коэффициентом заполнения 24%, излучающие на длине волны 850 нм. Исследованы их мощностные характеристики в непрерывном и импульсном режимах генерации. Показано, что линейки лазерных диодов на основе структуры типа 2 обладают лучшей линейностью ватт-амперных характеристик в непрерывном и импульсном режимах генерации по сравнению с линейками лазерных диодов на основе структуры типа 1.

Поступила в редакцию: 17.06.2014
Принята в печать: 24.06.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:3, 373–376

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025