RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 4, страницы 471–474 (Mi phts7560)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Гетеропереходы собственный окисел $p$-GaSb(Ox)/$n$-GaSb: безвакуумный процесс и фотоэлектрические свойства

В. Ю. Рудьa, Ю. В. Рудьb, Е. И. Теруковb, Т. Н. Ушаковаb, Г. А. Ильчукc

a Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195257 Санкт-Петербург, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
c Национальный университет ``Львовская политехника'', 790000 Львов, Украина

Аннотация: Предложена новая безвакуумная технология и впервые получены анизотипные фоточувствительные гетеропереходы собственный окисел одного из узкозонных полупроводников А$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$ – бинарного соединения $p$-GaSb(Ox)/$n$-GaSb. В основу развитого технологического процесса положено приповерхностное термическое взаимодействие кристалла GaSb c компонентами нормальной воздушной атмосферы земного шара. На основании проведенных в работе оригинальных физико-технологических исследований взаимодействия в системе GaSb/(воздушная среда земного шара) установлено, что полученные таким образом пленки собственного окисла $p$-GaSb(Ox) проявляют высокую адгезию по отношению к поверхности исходного антимонида галлия $n$-GaSb. В представленной работе впервые выполнены измерения стационарных вольтамперных характеристик и спектральных зависимостей относительной квантовой эффективности фотопреобразования полученных гетеропереходов $p$-GаSb(Ox)/$n$-GaSb, на основании которых обсуждаются закономерности токопереноса и фоточувствительности. В выполненной работе впервые обнаружена и реализована новая возможность применения процесса безвакуумного термического окисления пленок GaSb при создании фотодетекторов оптического излучения на подложках из гомогенных кристаллов антимонида галлия $n$-GaSb.

Поступила в редакцию: 17.07.2013
Принята в печать: 19.08.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:4, 455–458

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025