RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 6, страницы 753–758 (Mi phts7608)

Эта публикация цитируется в 12 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Эпитаксиальные слои InAsSbP с предельным содержанием фосфора, изоморфные с подложкой InAs

В. В. Романов, М. В. Байдакова, К. Д. Моисеев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Представлены экспериментальные результаты наращивания многокомпонентных твердых растворов InAs$_{1-x-y}$Sb$_y$P$_x$ для составов 0.43 $<x<$ 0.72 методом газофазной эпитаксии из металлорганических соединений при низкой температуре осаждения ($T<$ 520$^\circ$C) с использованием металлорганического источника мышьяка. Предложена модель роста эпитаксиального слоя InAsSbP, изоморфного с подложкой InAs, при заданном значении соотношения концентрации фосфора и сурьмы в твердой фазе.

Поступила в редакцию: 08.10.2013
Принята в печать: 21.10.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:6, 733–738

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025