RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 7, страницы 917–925 (Mi phts7647)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Влияние монооксида кремния на процесс формирования кремниевых нанокластеров (моделирование методом Монте-Карло)

Е. А. Михантьев, И. Г. Неизвестный, С. В. Усенков, Н. Л. Шварц

Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Исследовалось формирование нанокластеров кремния (Si-НК) в процессе отжига слоев состава SiO$_x$ (1 $\le x<$ 2) с использованием решеточной модели Монте-Карло. Моделирование проводилось с учeтом дополнительного механизма переноса кремния за счeт диффузии частиц монооксида кремния (SiO). Показано, что наличие SiO в системе приводит к увеличению размера критического зародыша Si-НК и может приводить к увеличению скорости роста нанокластеров. Формирование Si-НК при отжиге слоeв SiO$_x$ происходило только для состава с $x<$ 1.8. При отжиге слоeв SiO$_x$ на кремниевой подложке наблюдалось появление области обеднения нанокластерами прилегающего к подложке слоя. Это даeт возможность получения в матрице SiO$_2$ Si-НК, отстоящих на определенном расстоянии от границы раздела Si/SiO$_2$.

Поступила в редакцию: 05.11.2013
Принята в печать: 11.11.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:7, 891–898

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025