RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 7, страницы 932–937 (Mi phts7649)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Расчет поверхностных характеристик и давлений квантовых точек InAs в матрице GaAs

С. К. Губаa, В. Н. Юзевичab

a Национальный университет ``Львовская политехника'', 79013 Львов, Украина
b Физико-механический институт им. Г. В. Карпенко НАН Украины, 79060 Львов, Украина

Аннотация: Изложена теоретическая модель для расчета энергетических характеристик поверхностей квантовых точек InAs в матрице GaAs(100). Модель основана на положениях неравновесной термодинамики и физики поверхностей. В работе представлены результаты расчета поверхностных энергетических и адгезионных физических величин, а также давлений в окрестности ребер квантовых точек InAs в матрице GaAs(100). С помощью соотношения Юнга установлены причины изгиба профиля нижней части квантовой точки. Полученные результаты могут быть использованы для оценки механизмов релаксации напряжений при самоорганизации квантовых точек InAs в матрице GaAs(100).

Поступила в редакцию: 28.03.2013
Принята в печать: 11.11.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:7, 905–910

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025