RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 10, страницы 1307–1310 (Mi phts7710)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Электронные свойства полупроводников

Влияние отклонений от стехиометрии на электрические и фотоэлектрические свойства соединения Hg$_3$In$_2$Te$_6$

О. Г. Грушка, А. И. Савчук, С. М. Чупыра, О. М. Мыслюк, С. В. Биличук, В. В. Шлемкевич

Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича, 58000 Черновцы, Украина

Аннотация: Представлены результаты исследований электрических и фотоэлектрических свойств объемных кристаллов Hg$_3$In$_2$Te$_6$ стехиометрического состава и кристаллов с отклонением от стехиометрии Hg$_{3(1+\delta)}$In$_{2(1-\delta)}$Te$_6$, $\delta$ = $\pm$ 0.06. Показано, что изменение соотношения компонентов Hg и In в кристаллах ведет к увеличению концентрации взаимокомпенсирующих доноров и акцепторов, которые практически не влияют на положение донорного уровня в запрещенной зоне (энергия уровня $E_D=E_c$ – (0.18 $\pm$ 0.02) эВ), но определяют спектр фотопроводимости вблизи края собственного поглощения. Приводятся выражение для спектральной зависимости фототока и параметры неравновесных носителей заряда, описывающие эксперимент.

Поступила в редакцию: 21.11.2013
Принята в печать: 03.12.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:10, 1271–1274

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025