RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 11, страницы 1441–1443 (Mi phts7734)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe$_{1-x}$Br$_x$

М. К. Шаров, К. А. Кабанова

Воронежский государственный университет, 394006 Воронеж, Россия

Аннотация: Анализом физического уширения рентгеновских рефлексов определена микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe$_{1-x}$Br$_x$ в зависимости от содержания брома. Обнаружено, что она увеличивается при введении брома от 0.188% (у нелегированного PbTe) до 0.283% у PbTe$_{1-x}$Br$_x$ при $x$ = 0.02. При дальнейшем увеличении содержания брома микродеформация остается постоянной.

Поступила в редакцию: 13.03.2014
Принята в печать: 31.03.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:11, 1405–1407

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025