RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 12, страницы 1607–1610 (Mi phts7765)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Наноструктурированные халькогенидные пленки Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$, полученные методом лазерного электродиспергирования

Д. А. Явсин, В. М. Кожевин, С. А. Гуревич, С. А. Яковлев, Б. Т. Мелех, М. А. Яговкина, А. Б. Певцов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методом лазерного электродиспергирования получены аморфные наноструктурированные пленки сложного халькогенида (Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$) и исследованы их структурные и электрические свойства. Установлено, что характерный размер аморфных наночастиц Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$ в структуре пленок составляет 1.5–5 нм.

Поступила в редакцию: 13.05.2014
Принята в печать: 20.05.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:12, 1567–1570

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025