RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 12, страницы 1611–1620 (Mi phts7766)

Эта публикация цитируется в 11 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Легирование и дефектообразование в термоэлектрике ZnSb с примесью меди

Л. В. Прокофьева, П. П. Константинов, А. А. Шабалдин, Д. А. Пшенай-Северин, А. Т. Бурков, М. И. Федоров

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: В образцах ZnSb:Cu и ZnSb:CuSb с концентрацией меди до 0.6 ат% измерены коэффициенты Холла, термоэдс и электропроводности в режиме термоциклов 300–720–300 K. Показано, что поведение свойств определяется существованием двух температурных областей с разным характером изменения холловской концентрации и механизма рассеяния носителей заряда. Поведение заметно осложняется, когда при охлаждении появляется температурный гистерезис, привносящий в изменение свойств дополнительные особенности. Две отмеченные области легирования (с диапазоном 300–500 K и максимальной концентрацией дырок 2.5 $\cdot$ 10$^{19}$ см$^{-3}$ и с температурами выше 500 K и максимальной концентрацией 7.2 $\cdot$ 10$^{19}$ см) характеризуются рассеянием с участием как акустических фононов, так и заряженных примесей, при этом относительный вклад последних существенно зависит от состава легирующей добавки, температуры и хода ее изменения; охлаждение образцов до 77 K вызывает сильное снижение холловской подвижности, исчезающее только при $\sim$ 650 K. Взаимосвязанные процессы легирования и образования с последующей трансформацией дефектов, занимающих нейтральные позиции в решетке, связываются с изменением в микроструктуре образцов.

Поступила в редакцию: 27.05.2014
Принята в печать: 09.06.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:12, 1571–1580

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025