RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 1, страницы 9–14 (Mi phts7795)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Свойства эпитаксиальных твердых растворов (Al$_x$Ga$_{1-x}$As)$_{1-y}$C$_y$, выращенных МОС-гидридной автоэпитаксией

П. В. Серединa, Э. П. Домашевскаяa, И. Н. Арсентьевb, Д. А. Винокуровb, А. Л. Станкевичb

a Воронежский государственный университет
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Рост эпитаксиальных твердых растворов Al$_x$Ga$_{1-x}$As : C методом МОС-гидридной эпитаксии при низких температурах приводит к образованию четверных твердых растворов (Al$_x$Ga$_{1-x}$As)$_{1-y}$C$_y$, в которых атомы углерода могут концентрироваться на дефектах кристаллической решетки эпитаксиального твердого раствора с образованием нанокластеров примеси.

Поступила в редакцию: 11.04.2012
Принята в печать: 25.04.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:1, 7–12

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025