RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 1, страницы 107–111 (Mi phts7811)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Углеродные системы

Оптическая спектроскопия композитных тонких пленок C$_{60}$ : CdS

И. Б. Захароваa, В. М. Зиминовb, А. В. Нащекинb, Ю. С. Вайнштейнb, А. Н. Алешинb

a Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Описаны методика получения, структура и результаты оптической спектроскопии тонких композитных пленок на основе фуллерена с примесью (0.5–10)% сульфида кадмия. Разработана технология получения структур с градиентом состава в едином вакуумном цикле. Полученные образцы исследованы методами атомно-силовой микроскопии, комбинационного рассеяния, фотолюминесценции. При оптимальном содержании сульфида кадмия наблюдается перенос заряда на фуллерен, приводящий, по-видимому, к безбарьерной полимеризации пленок. Для спектральных зависимостей фотолюминесценции отмечен сдвиг пика в коротковолновую сторону на 0.09–0.11 эВ и увеличение интенсивности фотолюминесценции композитных пленок по сравнению с чистыми фуллереновыми образцами. Композитные структуры с градиентом содержания сульфида кадмия по толщине имеют выпрямляющие вольт-амперные характеристики.


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:1, 105–109

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025