RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 4, страницы 442–446 (Mi phts7869)

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Исследование фотомодулированного отражения монокристаллов 6H-SiC

А. Н. Грузинцев

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия

Аннотация: Исследовано влияние ультрафиолетового облучения поверхности монокристаллов карбида кремния (6H-SiC) на их оптическое отражение в видимой и фиолетовой областях спектра. Показано, что сигнал фотоотражения максимален при падении света под углом Брюстера с поляризацией, параллельной плоскости падения. Установлено относительное изменение показателя преломления (10$^{-3}$) поверхностных слоев кристалла при облучении азотным лазером, обусловленное генерацией неравновесных свободных носителей в зоне проводимости материала.

Поступила в редакцию: 09.06.2012
Принята в печать: 21.06.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:4, 464–468

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025