RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 4, страницы 546–550 (Mi phts7883)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Структурные и оптические свойства тонких пленок In$_2$O$_3$, полученных автоволновым окислением

И. А. Тамбасовab, В. Г. Мягковa, А. А. Иваненкоa, И. В. Немцевa, Л. Е. Быковаa, Г. Н. Бондаренкоc, Ю. Л. Михлинc, И. А. Максимовc, В. В. Ивановb, С. В. Балашовb, Д. С. Карпенкоb

a Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
b ОАО "Информационные спутниковые системы им. академика М. Ф. Решетнева", г. Железногорск
c Институт химии и химической технологии СО РАН, г. Красноярск

Аннотация: Пленки кубической фазы In$_2$O$_3$ получены автоволновой реакцией окисления. Электронно-микроскопические исследования и фотоэлектронная спектроскопия профилей распределения показали, что образцы однородны по всей площади и толщине, характерный размер зерна 20–40 нм. Проведены исследования оптических и электрических свойств пленок In$_2$O$_3$ , полученных при различном давлении в вакуумной камере. В диапазоне длины волн 400–1100 нм пленки имели прозрачность более 85% и удельное сопротивление 1.8 $\cdot$ 10$^{-2}$ Ом $\cdot$ см.

Поступила в редакцию: 16.05.2012
Принята в печать: 31.05.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:4, 569–573

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025