RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 5, страницы 586–590 (Mi phts7891)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Механизм переноса заряда в тонких пленках твердых растворов Bi$_2$(Tе$_{0.9}$Se$_{0.1}$)$_3$

Н. А. Абдуллаевa, Н. М. Абдуллаевa, Х. В. Алигулиеваa, А. М. Керимоваa, К. М. Мустафаеваa, И. Т. Мамедоваa, Н. Т. Мамедовa, С. А. Немовb, П. О. Буланчукc

a Институт физики им. Г.М. Абдуллаева НАН Азербайджана, AZ-1143 Баку, Азербайджан
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
c Институт физики твердого тела Российской академии наук, 142432 Черноголовка, Московская обл., Россия

Аннотация: Исследованы электропроводность, эффект Холла и магнитосопротивление в тонких пленках Bi$_2$(Tе$_{0.9}$Se$_{0.1}$)$_3$ в широком интервале температур 2.5–300 K и в сильных магнитных полях вплоть до 8 Тл. Обнаружено, что, в то время как в объемных монокристаллах проводимость имеет “металлический” характер, в тонких пленках Bi$_2$(Tе$_{0.9}$Se$_{0.1}$)$_3$ проводимость “диэлектрического” типа. Предложено, что при высоких температурах 100–300 K проводимость определяется в основном термоактивированными носителями заряда по протяженным состояниям зоны проводимости с энергией активации примерно равной 15 мэВ. При более низких температурах 2.5–70 K доминирует проводимость, обусловленная прыжками носителей заряда по локализованным состояниям, лежащим в узкой полоске энергий вблизи уровня Ферми. Из данных магнитосопротивления и электропроводности оценены радиус локализации, а также плотность локализованных состояний и средняя длина прыжка носителей заряда.

Поступила в редакцию: 18.06.2012
Принята в печать: 25.06.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:5, 602–605

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025