RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 6, страницы 761–764 (Mi phts7922)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Электрические свойства кремниевых диодов Шоттки, содержащих металлические пленки различного состава

И. Г. Пашаев

Бакинский государственный университет, Az-1148 Баку, Азербайджан

Аннотация: Получены и исследованы диоды Шоттки Au$_x$Ti$_{100-x}$/$n$-Si, а также изучены электрофизические свойства диодов, содержащих металлические пленки различного состава ($x$ = 0, 14, 30, 38, 60, 80, 100). Рентгенофазовым анализом установлено, что пленка сплава Au$_{38}$Ti$_{62}$ имеет аморфную структуру, а остальные пленки Au$_x$Ti$_{100-x}$ – поликристаллическую. Определены основные параметры диодов Шоттки в зависимости от состава и структуры пленок металла. В результате выявлено, что электрофизические свойства диодов Шоттки Au$_x$Ti$_{100-x}$/$n$-Si связаны с изменением состава и структуры пленок металла.

Поступила в редакцию: 02.04.2012
Принята в печать: 21.05.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:6, 771–774

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025